介電常數(shù)測試儀Q表

介電常數(shù)測試儀概述

ZJD-B數(shù)顯Q表是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字的化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。

它能測量高頻電感和諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角。配以夾具WY914介質(zhì)損耗裝置對絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

1、特點：

• 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，測Q精度和速度大大提高。
• 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。
• 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
• Q值量程自動/手動量程控制。
• 數(shù)字化Q值予置，能提高批量測試的可靠性和速度。
• VCO調(diào)節(jié)測試頻率，其平滑的連續(xù)頻率變化，能便捷的進行△f法測量Q值。

所以本儀器使用方便，具有較高測量精度和理想的穩(wěn)定度。能廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

2、工作特性

2.1 Q值測量：

2.1.1 Q值測量范圍：5～999三位數(shù)顯。 

2.1.2 Q值量程分檔： 100、316、999，量程可自動切換。

2.1.3 標稱誤差：（※） 

  頻率范圍：50kHz～10MHz         頻率范圍：10MHz～25MHz

固有誤差：±5%±滿刻度的2%     固有誤差:﹤±8%±滿刻度的2%  

工作誤差：±7%±滿刻度的2%     工作誤差:﹤±10%±滿刻度的2%

頻率范圍：25MHz～50MHz           

固有誤差：±12%±滿刻度的2%

工作誤差：±15%±滿刻度的2%   

Q值誤差說明：

※用經(jīng)計量單位檢定的標準線圈的標稱有效Q值為標準，按變頻法測得的均值為定標值（按照國家計量單位檢定規(guī)程：JJF1073-2000高頻Q表校準規(guī)范）。

具體修正系數(shù)見表1(P13)

2.2 電感測量：

2.2.1 測量范圍：0.1μH～100mH

2.2.2 分六個量程：0.1～1μH、1～10μH、10～100μH、0.1～1mH，

1mH～10mH、10mH～100mH

• 測量誤差：﹤5%±0.02μH

2.3 調(diào)諧電容器特性：

2.3.1 電容量范圍：主調(diào)電容器：40～500pF

      刻度誤差：≤±1% ±1pF

      微調(diào)電容器：-3PF～0～+3PF

      分辨率：0.2PF

2.4  頻率范圍及刻度誤差：

2.4.1 50kHz～50MHz，分六檔頻段,四位數(shù)顯。

2.4.2 工作誤差：＜0.1%

2.5 Q合格指示預(yù)置：

預(yù)置范圍5～999，設(shè)置誤差：±1%。

2.6 正常工作條件：

環(huán)境溫度：-0℃～+40℃

相對濕度：＜80%

大氣壓力：750±30mmHg

電源：220V±10%  50Hz±4%

2.7 其它：

消耗功率：約20W。

凈重：7kg

外形尺寸：415(長)×180(高)×170(寬)（mm）

夾具

1、概述

ZJD-B介質(zhì)損耗測試裝置和ZJD-B系列Q表及電感器配用。能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測試。ZJD-B選用φ38極片，符合國標GB/T 1409-2006和GB/T 1693-2007推薦的測量方法。

2、工作特性

2.1 平板電容器：

極片尺寸：ZJD-B φ38 mm（符合國標）

極片間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm，±0.01mm 

2.2 圓筒電容器：

電容量線性：0.33pF/mm±0.05pF。

長度可調(diào)范圍和分辨率：0~25mm，±0.01mm（±4.2pF）

2.3 夾具插頭間距：

25mm±0.1mm

2.4 夾具損耗角正切值：

≤4×10-4（1MHz時）

3、工作原理

   本測試裝置是由二只測微電容器組成。平板電容器一般用來夾被測樣品。圓筒電容器是一只分辨率高達0.0033PF的線性微可變電容器。配合Q表作為指示儀器。平板狀的絕緣材料的損耗角正切值和介電常數(shù)是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q表Q值顯示變化量的大小以及調(diào)諧電容值變化，或由圓筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算也能得到介電常數(shù)值。