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高溫絕緣材料電阻率測試儀可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線,該系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領域得到很好的應用,是目前國內(nèi)外絕緣材料高溫電阻率測量*系統(tǒng),廣發(fā)應用于高校科研院所和企業(yè)單位材料的高溫絕緣性能研究。
ATI-1000S型半導體體積電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。
TI-1000C型高溫導體材料電阻率測試儀主要用于導電材料導電性能的評估和測試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率
高阻計*符合國家標準GB/T1410-2006、ASTM D257-99、GB/T 2439-2001、GB/T 10581-2006、GB/T 1692-2008、GB/T 10064-2006、GB/T 12703.4-2010、ASTM D257等標準要求。本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導率。本儀器除能測電阻外,還
橡塑材料體積電阻率測試儀體積電阻和表面電阻的試驗都受到下列因素影響:施加電壓的大小和時間;電極的性質(zhì)和尺寸;在 試樣處理和測試過程中周圍大氣條件和試樣的溫度、溫度。
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