一、電壓擊穿試驗(yàn)儀測(cè)試原理
固體電介質(zhì)擊穿有3種形式:電擊穿、熱擊穿和電化學(xué)擊穿。
電擊穿
電擊穿是因電場(chǎng)使電介質(zhì)中積聚起足夠數(shù)量和能量的帶電質(zhì)點(diǎn)而導(dǎo)致電介質(zhì)失去絕緣性能。熱擊穿是因在電場(chǎng)作用下,電介質(zhì)內(nèi)部熱量積累、溫度過高而導(dǎo)致失去絕緣能力。電化學(xué)擊穿是在電場(chǎng)、溫度等因素作用下,電介質(zhì)發(fā)生緩慢的化學(xué)變化,性能逐漸劣化,最終喪失絕緣能力。固體電介質(zhì)的化學(xué)變化通常使其電導(dǎo)增加,這會(huì)使介質(zhì)的溫度上升,因而電化學(xué)擊穿的最終形式是熱擊穿。溫度和電壓作用時(shí)間對(duì)電擊穿的影響小,對(duì)熱擊穿和電化學(xué)擊穿的影響大;電場(chǎng)局部不均勻性對(duì)熱擊穿的影響小,對(duì)其他兩種影響大。
熱擊穿
當(dāng)固體電介質(zhì)承受電壓作用時(shí),介質(zhì)損耗是電介質(zhì)發(fā)熱、溫度升高;而電介質(zhì)的電阻具有負(fù)溫度系數(shù),所以電流進(jìn)一步增大,損耗發(fā)熱也隨之增加。電介質(zhì)的熱擊穿是由電介質(zhì)內(nèi)部的熱不平衡過程造成的。如果發(fā)熱量大于散熱量,電介質(zhì)溫度就會(huì)不斷上升,形成惡性循環(huán),引起電介質(zhì)分解、炭化等,電氣強(qiáng)度下降,最終導(dǎo)致?lián)舸?/span>
熱擊穿的特點(diǎn)是:擊穿電壓隨溫度的升高而下降,擊穿電壓與散熱條件有關(guān),如電介質(zhì)厚度大,則散熱困難,因此擊穿電壓并不隨電介質(zhì)厚度成正比增加;當(dāng)外施電壓頻率增高時(shí),擊穿電壓將下降。
電化學(xué)擊穿
固體電介質(zhì)受到電、熱、化學(xué)和機(jī)械力的長(zhǎng)期作用時(shí),其物理和化學(xué)性能會(huì)發(fā)生不可逆的老化,擊穿電壓逐漸下降,長(zhǎng)時(shí)間擊穿電壓常常只有短時(shí)擊穿電壓的幾分之一,這種絕緣擊穿成為電化學(xué)擊穿。當(dāng)加在某絕緣介質(zhì)上的電壓高于過一定程度(擊穿電壓)后,這時(shí)絕緣介質(zhì)會(huì)發(fā)生突崩潰而使其電阻迅速下降,繼而使得一部分絕緣介質(zhì)變?yōu)閷?dǎo)體。在有效的擊穿電壓下,電擊穿現(xiàn)象可以發(fā)生在固體、流體、氣體或者真空等不同的介質(zhì)中。
電樹枝(預(yù)擊穿)
在電氣工程中,樹化是固體絕緣中的一種電氣預(yù)擊穿現(xiàn)象。這是由于局部放電而造成的破壞性過程,并通過受應(yīng)力的介電絕緣層,在類似于樹枝的路徑中進(jìn)行。固體高壓電纜絕緣的樹化是地下電力電纜中常見的擊穿機(jī)制和電氣故障來源。當(dāng)干介電材料在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)受到高且發(fā)散的電場(chǎng)應(yīng)力時(shí),首先發(fā)生并傳播電樹。觀察到電樹化起源于雜質(zhì)、氣孔、機(jī)械缺陷或?qū)щ娡黄鹪陔娊橘|(zhì)的小區(qū)域內(nèi)引起過度電場(chǎng)應(yīng)力的點(diǎn)。這可以使體電介質(zhì)內(nèi)的空隙內(nèi)的氣體電離,從而在空隙的壁之間產(chǎn)生小的放電。雜質(zhì)或缺陷甚至可能導(dǎo)致固體電介質(zhì)本身的部分擊穿。這些局部放電(PD)產(chǎn)生的紫外線和臭氧隨后與附近的電介質(zhì)發(fā)生反應(yīng),分解并進(jìn)一步降低其絕緣能力。隨著電介質(zhì)的降解,氣體通常會(huì)釋放出來,從而產(chǎn)生新的空隙和裂縫。這些缺陷進(jìn)一步削弱了材料的介電強(qiáng)度,增強(qiáng)了電應(yīng)力,加速了PD過程。
2.2試品
如表1所示,電壓擊穿實(shí)驗(yàn)平臺(tái)可用于(1)TO封裝、(2)剛性壓接封裝、(3)彈性壓接封裝(4)焊接封裝、(5)用于實(shí)驗(yàn)室測(cè)量的簡(jiǎn)易封裝、(6)襯板、(7)子單元框架、(8)板狀絕緣材料、(9)管殼、(10)硅凝膠的擊穿強(qiáng)度測(cè)量和驗(yàn)證。
表1 電壓擊穿實(shí)驗(yàn)平臺(tái)測(cè)試對(duì)象
1 | TO封裝 | |
2 | 剛性壓接封裝 |
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3 | 彈性壓接封裝 |
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4 | 焊接封裝 |
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5 | 用于實(shí)驗(yàn)室的簡(jiǎn)易封裝 |
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6 | 襯板 |
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7 | 子單元框架 |
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8 | 板狀絕緣材料 |
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9 | 管殼 |
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10 | 硅凝膠 |
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二、整機(jī)結(jié)構(gòu)
主機(jī)型號(hào):中航時(shí)代儀器ZJC-100KV電壓擊穿試驗(yàn)儀,如圖1所示;
配件備件:各種型號(hào)電極2套;放電棒一個(gè);隔熱手套1副詳情見價(jià)格。
1 外觀示意圖
2 整機(jī)結(jié)構(gòu)示意圖
上圖中,
(1)結(jié)構(gòu)示意圖所示為濾波器與主機(jī)分開的狀態(tài),直流試驗(yàn)時(shí)須連接濾波器,交流時(shí)需要分開濾波器;
(2)交流試驗(yàn)時(shí),拔出濾波器與高壓變壓器的連接線,分開濾波器;
(3)直流試驗(yàn)時(shí),合上濾波器,插上濾波器與高壓變壓器的連接線;
(4)外部電源正負(fù)接口,用來通過外接電源的正負(fù)線,穿過之后可以直接插入試樣架正負(fù)極;
(5)外部采樣接口會(huì)輸出采樣信號(hào),采樣信號(hào)包括高壓電流和高壓電壓,信號(hào)為0-5V;
(6)其他相關(guān)的部分,如高壓采樣等請(qǐng)參考電路設(shè)計(jì)框圖,在此不做展示。
圖 3 高溫油槽結(jié)構(gòu)圖
圖 4 二次側(cè)測(cè)試電路示意圖
圖 5 擊穿強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)平臺(tái)原理框圖
關(guān)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的一般說明:
(1)使用計(jì)算機(jī)控制,并采集所有信號(hào);
(2)通過無級(jí)調(diào)壓控制箱生成需要的波形并且輸出0-200V電壓,通過外部觸發(fā)按鍵切換50Hz正弦波和100Hz方波;
(3)通過高壓變壓器生成需要的0-100kV電壓,并且通過機(jī)械機(jī)構(gòu)切換交直流;
(4)在試樣架正負(fù)極預(yù)留外部電源輸入接口;
(5)直流電壓通過0.5uF高壓采樣電容濾波,使紋波系數(shù)≤2%;
(6)高壓采樣部分采集電壓和電流,通過AD轉(zhuǎn)換傳遞給計(jì)算機(jī),同時(shí)預(yù)留出外部取樣接口;
(7)在直流試驗(yàn)時(shí),通過電感限制電容放電,防止放電電流過大造成干擾;
(8)整機(jī)接線如下圖所示,包含計(jì)算機(jī)和放電、照明等系統(tǒng)的接線方式。
圖 6 擊穿強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)平臺(tái)整機(jī)接線圖
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